Dealing with long-time range dependence in large-scale multiple testing of Event-Related Potentials data - Institut Agro Rennes-Angers Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Dealing with long-time range dependence in large-scale multiple testing of Event-Related Potentials data

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01167092 , version 1 (23-06-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01167092 , version 1

Citer

Emeline Perthame, Ching-Fan Sheu, David Causeur, Yuh-Shiow Lee. Dealing with long-time range dependence in large-scale multiple testing of Event-Related Potentials data. 46e Journées de Statistique, Société Française de Statistique, Jun 2014, Rennes, France. ⟨hal-01167092⟩
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